TeraView- EOTPR 5000 电光太赫兹脉冲反射系统
全自动IC封装检验系统
太赫兹科技与解决方案的先锋与领导者TeraView，很荣幸的推出全自动IC封装检验系统 EOTPR5000。基于手动系统EOTPR2000的成功推广，已在IC封装业界建立起快速的错误定位与手动检验仪器的先驱者，而全自动IC封装检验系统EOPTR5000是利用TeraView 太赫兹技术的专利以检测IC在量产环境中的导线微裂或导线质量好坏的边界控制，而这是目前没有其他技术可以侦测到的
现今的先进IC封装容易产生各种缺陷与质量变异，例如在PoP或2.5/3D封装的锡球缺陷，如焊接点的不良现象HIP(Head-in-pillow)。即使有良好的电子导通表现，这些微弱或接近错误的边缘缺陷状况是无法被逻辑测试或电子测试仪器检测。然而, 基于EOTPR5000优越的精准度和敏感度，使用者可以在IC经过加速寿命测试或高温循环测试后侦测到导线的微小缺陷或接近错误的边缘缺陷的阻抗变化，而在IC尺寸越来越小且先进封装的复杂度越来越高的状况下，这同样适用于侦测并降低产品的制造变异以增进封装相关的产率。EOTPR5000的目标在于提高现今先进IC封装的生产良率与可靠性。
在大量的生产环境下，EOTPR5000是一个独一无二的IC先进封装质量检测工具。没有任何其他设备能像EOTPR5000一样的检查并侦测功能。
Teraview EOTPR5000 简介
